La revista TSIA (Temas Selectos de Ingeniería de Alimentos) es una revista científica dedicada a la difusión de investigaciones originales en las áreas de ciencia y tecnología de alimentos. Conócela aquí
Microscopía electrónica de barrido
El avance en la instrumentación ha permitido -en la nanotecnología, la electrónica y la ciencia de materiales- la caracterización morfológica y composicional para el diseño e implementación de aplicaciones específicas. La microscopía electrónica de barrido acoplada a espectroscopia de energía dispersiva de rayos X (SEM/EDS por sus siglas en inglés)...
