ultra-alta resolución FE-SEM

Microscopía electrónica de barrido

El avance en la instrumentación ha permitido -en la nanotecnología, la electrónica y la ciencia de materiales- la caracterización morfológica y composicional para el diseño e implementación de aplicaciones específicas. La microscopía electrónica de barrido acoplada a espectroscopia de energía dispersiva de rayos X (SEM/EDS por sus siglas en inglés) ha sido una de las más relevantes; su aplicación se...